O uso Simultâneo das Técnicas XPS e EXAFS no Estudo de Superfícies
DOI:
https://doi.org/10.25110/akropolis.v7i27.1758Resumo
A compreensão das propriedades física se químicas da últimas camadas atômicas dos materiais são fundamentais em vários processos tecnológicos importantes. A espectroscopia “XPS” é a principal técnica utilizada na caracterização de superfície e nos fornecem informações sobre a composição atômico da superfície, natureza e ligação dos átomos. Já a espectroscopia “EXAFS” e “XANES” , utilizando radiações síncrotron, são as principais técnicas na caracterização do bulke e nos fornecem informações sobre a estrutura local (número de coordenação, distâncias interatômics). A utilização em conjunto destas técnicas leva a informações precisas sobre a composição da superfície e do bulk para um determinado composto, esclarecendo as informações estruturais, bem como suas propriedades.Downloads
Como Citar
GONÇALVES, José Eduardo. O uso Simultâneo das Técnicas XPS e EXAFS no Estudo de Superfícies. AKRÓPOLIS - Revista de Ciências Humanas da UNIPAR, [S. l.], v. 7, n. 27, 2008. DOI: 10.25110/akropolis.v7i27.1758. Disponível em: https://unipar.openjournalsolutions.com.br/index.php/akropolis/article/view/1758. Acesso em: 5 out. 2024.
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